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型號:

紫外可見分光光度計UV754N 規格參數

描述:紫外可見分光光度計UV754N 規格參數,是一種能適應現代分析實驗室運用光譜分析法對物質進行各種定量分析需要的低價格、高性能的分光光度計。廣泛應用于醫藥衛生、環境保護、食品工業、石油化工、生物化學、大專院校及質量控制等部門。

  • 廠商性質

    經銷商
  • 更新時間

    2020-07-10
  • 訪問量

    1966
詳細介紹
品牌YOKE/上海佑科光譜帶寬1nm
波長準確度2nm雜散光(S.L.)0.2%%T
波長范圍200-1000nm自動程度自動波長
接收器類光電二極管陣列儀器結構單光束
價格區間1萬-2萬應用領域綜合
 

紫外可見分光光度計UV754N 規格參數  儀器特點:
1、采用51微機系統,可存儲標準曲線和測試數據。
2、儀器具有自我故障診斷功能。
3、提供斷電保護。
4、儀器內置定量分析軟件,方便用戶操作使用。
5、通過簡單的參數設定,方便地進行光度分析、定量分析、動力學測試、光譜掃描、多波長測試、DNA/蛋白質分析。
6、具有標準打印機接口和RS-232通訊接口。

紫外可見分光光度計UV754N 規格參數

儀器參數:
波長驅動:自動波長
波長范圍:200~1000nm 
波長準確度:±2nm
波長重復性:0.5nm
光譜帶寬:4nm
透射比準確度:±0.5%T
透射比重復性:0.2%T
透射比范圍:0.0-200%T
光度范圍:-3-3A ,0~200%T,0~9999C
雜散光:0.2%T@220nm、360nm
穩定性:±0.002A/小時
顯示系統:128*64位點陣液晶顯示
通訊方式:USB接口
打印機:選配
分析軟件:支持
噪聲水平:0.001A/2min@500nm
基線平直度:0.002A/h

 

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